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Halbleiter-Bestückungsprüfgerät

HY-PS308 Pick-and-Place-Testgriffr ist für die automatisierte Prüfung und Sortierung von MSOP-, QFN-, DFN-, LQFP-, LGA-, BGA-, CSP- und anderen Halbleitergehäusen im Bereich von 2 × 2 bis 110 × 110 mm konzipiert.

  • Marke :

    HYRNUS
  • Artikelnummer :

    HY-PS308
  • Bestellung (Mindestbestellmenge) :

    1 Set
  • Garantie :

    One-Year Warranty and Lifetime Maintenance
  • Zahlung :

    T/T
  • Lieferzeit :

    7-35 Days
  • Produktursprung :

    China
  • Halbleiter-Bestückungsprüfgerät

    Produktübersicht

    HY-PS308 Pick&Place Test Handler ist anwendbar für die Prüfung und Sortierung von MSOP, QFN, DFN, LQFP, LGA, BGA, CSP und anderen Produkten mit Spezifikationen von 2x2 bis 110x110 und erfüllt die Anforderungen sowohl für die Prüfung und Sortierung bei Raumtemperatur als auch bei hohen Temperaturen, während gleichzeitig eine hohe Produktqualität für die Kunden gewährleistet wird.

    Produkt Vorteil

    NEIN.Vorteil Beschreibung
    1Aufnahme- und Entladearm: Die Y-Achse ist doppelseitig angetrieben; die Z-Achse wird von zwei Motoren unabhängig gesteuert.×4 Ansaug- und Auslassdüsen, X-Pitch variabel. Das Düsenmodul ist in Trägerbauweise ausgeführt, der Schwerpunkt ist stabil und es ist verformungsbeständig.
    2Druckmessmodul: ausgestattet mit Präzisions-Schwimmkopf- und Stecksockelsensor, automatische Berechnung der Druckmessung, bis zu 240 kgf.
    3Shuttle-Modul: In beiden XY-Richtungen sind Sensoren angebracht, die genau erkennen, ob der Shuttlewagen gestapelt ist oder nicht, um das Material zu schützen; Der entladende Shuttlewagen verfügt über eine Rücklauftemperaturheizungsfunktion.
    4Temperaturregelungssystem: Test TJ: ±2; Vorheizblech/Shuttle: ±3TC: ±1; 200 W bei -55/300W@ -40/850W @ 25/1150W@ 85~150/ 200(Optional).
    5Plattenmodul: Die Zuführplatte ist mit einer Motorspindel ausgestattet, was die Einstellung bei Verwendung von Platten unterschiedlicher Dicke erleichtert.
    6Touchscreen und Tastenfeld mit Konfiguration an Vorder- und Rückseite, Unterstützung für den Anschluss verschiedener Testgeräte anderer Hersteller.

    ic test handle

    Technischer Parameter

    ArtikelSpezifikation
    Geeignete KomponentenMSOPQFNDFNLQFPLGABGACSPDimensions: 2×2-110×110 mm
    UPHMax 13,5K (8-Site, QFN4)×4)
    Prüfstation16/12/8/4/2/Einzelstandort
    KompressionsprüfungMax 240 kgf
    FahrmodusLinearmotorantrieb
    Indexzeit0,42S
    Be- und EntladenFacheingang + Fachausgang
    Tablett300 mm×146 mm
    StabilitätMarmeladenrate1/10000, MTBA>60min, MTTA<3 Minuten, MTBF > 168 Stunden
    Temperaturbereich50℃ – 90℃ ±290℃ – 150℃ ±3Optional: bis zu 200
    Kommunikations-E/ATTL / GPIB / RS232 / Ethernet
    Abmessungen213515452000 (mm)
    StromquelleRaumtemperatur: Einphasig 220 V, 50/60 Hz, 32 A, Leistung 7 kW; Hohe Temperatur: Einphasig 220 V, 50/60 Hz, 32 A × 2, Leistung 11,5 kW
    Druck0,5 MPa, 550 l/min, 12-poliger Schnellanschluss
    Gewicht1560 kg

    Produktdetails

    semiconductor handler

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Kontaktieren Sie uns :allen@hyrnus.com