Der HY-TM200 Halbleitermetallurgisches Messmikroskop Das System kombiniert optische Beobachtung, digitale Bildgebung und Präzisionsmessung. Es unterstützt Hellfeld- und Dunkelfeldinspektion mit einer Positioniergenauigkeit von bis zu ±0,1 μm. Es eignet sich zur Messung von Goldkugeln, Drahtschleifen, IC-Gehäusen, Leiterplatten und anderen elektronischen Bauteilen in der Qualitätskontrolle und Forschung & Entwicklung.
Marke :
HYRNUSArtikelnummer :
HY-TM200Bestellung (Mindestbestellmenge) :
1 SetGarantie :
One-Year Warranty and Lifetime MaintenanceZahlung :
T/TLieferzeit :
7-35 DaysProduktursprung :
Chinaeine Nachricht hinterlassen
Scannen Sie den QR-Code zu WeChat :
Scannen und zu WhatsApp senden :