Geben Sie Produktdetails (wie Farbe, Größe, Material usw.) und weitere spezifische Anforderungen ein, um ein genaues Angebot zu erhalten.
eine Nachricht hinterlassen
Wenn Sie an unseren Produkten interessiert sind und mehr Details erfahren möchten, hinterlassen Sie bitte hier eine Nachricht. Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.
1

Halbleitermetallurgisches Messmikroskop zur IC-Gehäuseinspektion

Der HY-TM200 Halbleitermetallurgisches Messmikroskop Das System kombiniert optische Beobachtung, digitale Bildgebung und Präzisionsmessung. Es unterstützt Hellfeld- und Dunkelfeldinspektion mit einer Positioniergenauigkeit von bis zu ±0,1 μm. Es eignet sich zur Messung von Goldkugeln, Drahtschleifen, IC-Gehäusen, Leiterplatten und anderen elektronischen Bauteilen in der Qualitätskontrolle und Forschung & Entwicklung.

  • Marke :

    HYRNUS
  • Artikelnummer :

    HY-TM200
  • Bestellung (Mindestbestellmenge) :

    1 Set
  • Garantie :

    One-Year Warranty and Lifetime Maintenance
  • Zahlung :

    T/T
  • Lieferzeit :

    7-35 Days
  • Produktursprung :

    China
  • Halbleitermetallurgisches Messmikroskop zur IC-Gehäuseinspektion

     

    Produkteinführung

    Der HY-TM200 Halbleitermetallurgisches Messmikroskop Es wurde für die hochpräzise Inspektion und Dimensionsmessung von Halbleitergehäusen, integrierten Schaltungen (ICs), Leiterplatten und elektronischen Bauteilen entwickelt. Es integriert optische Beobachtung, digitale Bildgebung und Messfunktionen in einem kompakten System für Labor- und Produktionsanwendungen.

    Ausgestattet mit einem unendlichen optischen System, Hell- und Dunkelfeld-Beobachtungsmodi sowie hochauflösender industrieller CCD-Bildgebung liefert das Mikroskop klare Bilder und präzise Messergebnisse. Mit einer Positioniergenauigkeit von bis zu ±0,1 μm und vielfältigen Messfunktionen wie Länge, Winkel, Radius und Höhe eignet es sich ideal für die Halbleiter-Qualitätskontrolle, Fehleranalyse und Forschung & Entwicklung. Kundenspezifische Vorrichtungen sind erhältlich, um unterschiedlichen Prüfanforderungen gerecht zu werden.

     

    Produktspezifikationen

    ArtikelDetails
    ModellHY-TM200
    Abmessungen700 x 800 x 800 mm
    Gewicht85 kg
    Glasabmessungen230 x 160 mm
    Bühnenabmessungen358 x 258 mm
    Reisebereich200 x 100 x 150 mm
    GitterskalenauflösungZ-Achse:±0,1 µm XY-Achse:±0,5 µm (optional)±0,1 µm)
    Optisches SystemOptisches System mit unendlicher Brennweite
    BewegungsartHandbuch
    Ziele5x, 10x, 20x, 50x
    Okular10x
    SichtfeldInvertiertes Bild
    BeobachtungsmethodenHellfeld- und Dunkelfeldmodus, frei umschaltbar
    Oberflächen-/Bodenlichtquelle3W LED-Koaxialbeleuchtung
    XYZ-Positionierungsgenauigkeit±0,1 µm
    XYZ-Wiederholgenauigkeit±0,1 µm
    XY-Messgenauigkeit(3 + L/100) µm (L = gemessene Länge)
    Z-Messgenauigkeit(3 + L/25) µm (L = gemessene Höhe)
    AnzeigefunktionenRS232-Ausgang, XYZ-Nullstellung/Zentrierung, Umrechnung zwischen imperialen und metrischen Einheiten, Genauigkeitskalibrierung
    Z-Achsen-SteuerungHochpräzises Koaxialrad zur Steuerung vertikaler Bewegungen
    Positioniergenauigkeit der Z-Achse±0,1 µm
    BetriebsspannungWechselstrom 220 V
    Nennleistung100 W

     

    Hauptfunktionen

    NEIN.Details
    1Messung des Durchmessers einer Goldkugel (Längenmessung)
    2Dickemessung der Goldkugel (Winkelmessung)
    3Golddrahtbogenmessung (Radiusmessung)

     

    Vorteile

    ArtikelDetails
    Vielseitige optische KomponentenKompatibel mit inländischen und importierten optischen Komponenten, unterstützt Hellfeld-, Dunkelfeld-, Differenzialinterferenzkontrast- (DIC), Polarisations- und Epifluoreszenzmodi.
    ZielturmKann bis zu 5 Objektive aufnehmen, mit Vergrößerungen von 5x, 10x, 20x, 50x und 100x, um verschiedenen Anwendungsanforderungen gerecht zu werden.
    BildgebungssystemAusgestattet mit einer industrietauglichen Farb-CCD-Kamera, die über das Zoomobjektiv hochwertige Bilder aufnimmt, diese in elektronische Signale umwandelt und zur Analyse an einen Computer überträgt.
    Ergonomische DatenanzeigeeinheitKonzipiert für den unabhängigen Betrieb mit einstellbarem Winkel, ermöglicht es komfortables Messen im Stehen oder Sitzen. Unterstützt Nullstell- und Zentrierfunktionen für hochpräzise Kalibrierung.
    Präzisions-GewindespindelantriebDie Spindel und die Mutter aus Edelstahl ermöglichen eine schnelle und präzise Justierung und verbessern so die Messgenauigkeit. Die stabile Konstruktion reduziert Vibrationen des Messtisches und gewährleistet eine genauere Positionierung.

     

    Produktdetails

    Metallurgical Measuring Microscope

    Semiconductor Inspection Microscope

eine Nachricht hinterlassen
Wenn Sie an unseren Produkten interessiert sind und mehr Details erfahren möchten, hinterlassen Sie bitte hier eine Nachricht. Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.

eine Nachricht hinterlassen

eine Nachricht hinterlassen
Wenn Sie an unseren Produkten interessiert sind und mehr Details erfahren möchten, hinterlassen Sie bitte hier eine Nachricht. Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.
Kontaktieren Sie uns :allen@hyrnus.com