Der HY-TM200 Halbleitermetallurgisches Messmikroskop Das System kombiniert optische Beobachtung, digitale Bildgebung und Präzisionsmessung. Es unterstützt Hellfeld- und Dunkelfeldinspektion mit einer Positioniergenauigkeit von bis zu ±0,1 μm. Es eignet sich zur Messung von Goldkugeln, Drahtschleifen, IC-Gehäusen, Leiterplatten und anderen elektronischen Bauteilen in der Qualitätskontrolle und Forschung & Entwicklung.
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